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理学XRD UltimaIV X射线衍射仪

理学 UltimaIV

理学XRD UltimaIV X射线衍射仪

成色 A
¥700,000

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产品描述

热重分析仪，用于测量材料质量随温度变化关系。温度范围：室温至1000°C；温度精度：±0.5°C；天平灵敏度：0.1μg；TG分辨率：0.001%

技术规格

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